告别测量困境！BRM-6301如何解决大发散角激光器行业痛点
在半导体激光器的研发与生产中，工程师们长期面临一个令人头疼的难题：如何准确测量那些快轴发散角高达30°~50°的激光二极管？
传统的光斑分析仪在面对此类大发散角光束时，往往因光斑尺寸远超探测器靶面、能量分布不均而束手无策，导致数据失真或根本无法测量。这一瓶颈，严重制约了高功率激光巴条、VCSEL阵列等前沿光源的性能验证、工艺优化与量产落地。
为什么发散角测量如此关键？
发散角并非一个简单的参数，它决定了激光器的光束质量关键。半导体激光器因其物理结构和发光机理，天生就具有发散较大且不对称的特点。所以半导体激光器的绝大多数应用，都需要首先对其进行光束整形，而发散角测量数据是进行光束整形设计的依据。
在光纤通信与光纤激光器泵浦领域，精确的垂直（θ⊥）与水平（θ∥）发散角数据，是设计快慢轴准直透镜系统、实现从“椭圆形光锥”到“圆形光纤”高效耦合（效率可从不足10%提升至90%以上）的唯一理论依据。
现代高性能半导体激光器通常不是“裸芯片”，而是带有微光学透镜的模块（如To-Can封装带玻璃透镜、光纤耦合模块）。测量发散角是设计这些集成化微光学透镜（球面、非球面、柱面）的基础。“测试-设计”闭环是保证模块出光质量与一致性的关键。
当需要将半导体激光器模块集成到一个更大的系统中时，已知的发散参数（包括发散角）是进行光路对准和调试的基准数据。无论是激光雷达发射单元、医疗设备探头，还是光谱仪光源，已知且稳定的发散角参数是后续光路布局、元件选型与系统对准的基础物理常数，确保应用性能的可预测性与可靠性。
因此，精确测量发散角，是连接半导体激光物理特性与终端工程价值不可替代的桥梁。
BRM-6301：以“旋转扫描法”突破传统测量局限
专为应对大发散角测量难题而设计的BRM-6301全自动发散角测试仪，采用创新的高精度双轴旋转扫描法，彻底摆脱了传统成像设备的角度与动态范围限制。
关键技术优势：
⚡旋转扫描法，摆脱测量角度限制
采用高精度位移平台与双轴（γ轴：-90°~＋90°，C轴：0°~360°）旋转设计，自动完成快轴与慢轴的全角度光强扫描。此方法直接获取光源的空间角谱分布，不受光斑尺寸限制，尤其擅长测量超大发散角。
